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X射線熒光光譜分析儀的一些特性
發布時間：2019-09-16 10:13:12 點擊：4452
X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。
X射線熒光光譜分析儀的一些特性
X射線熒光光譜分析儀的不斷完善和發展所帶動的X射線熒光光譜分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面選擇的儀器之一。
1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出最具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素的含量較高或者能量較高，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
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